相位噪聲 是一種描述振蕩器在頻域中穩(wěn)定性的方法。它可以區(qū)分 Random （Stochastic） 噪聲和 Induced/Rerepeatitive （Deterministic） 噪聲。Frequency Domain（頻域）顯示振蕩器輸出的頻譜（頻率）內(nèi)容在給定頻率范圍內(nèi)的外觀。在這個域中，我們使用 Spectrum Analyzer（頻譜分析器）來查看振蕩器的輸出（圖 1）。
抖動是一種描述振蕩器在時域中穩(wěn)定性的方法。它將所有噪聲源集中在一起，并顯示它們對時間的影響。Time Domain （時域） 顯示OSC晶振的輸出在顯示的時間段內(nèi)的情況。在這個域中，我們使用示波器來查看振蕩器的輸出（圖 2）。
了解 Phase Noise 需要了解 Spectral Density 的概念。
想象一個不可能構(gòu)建的帶通濾波器，具有以下屬性（圖 3）。
1、通帶增益 = 1
2、阻帶衰減 = 無限
3、通帶寬度 = 1 Hz
4、阻帶垂直側(cè)
5、可調(diào)諧中心頻率，步長為 1 Hz
將此濾波器應(yīng)用于您正在測量的信號，從頻率 fstart 開始，以 1Hz 的步長結(jié)束。在每個步驟中，使用功率計測量濾波器的輸出功率水平，并在圖表上繪制（圖 4）。
信號功率譜密度（以瓦特/Hz 帶寬為單位）
將此濾波器應(yīng)用于振蕩器，其中 fstart 剛好高于振蕩器頻率 Fosc（圖 5），然后我們測量單側(cè)帶（即上側(cè)帶）信號功率譜密度，以瓦特/赫茲帶寬為單位。將 Signal 一詞替換為 Noise 一詞（因為 Fosc 以上且與諧波無關(guān)的任何內(nèi)容都可以被視為噪聲）并以 dBW（10log（瓦特））工作，因為動態(tài)范圍大），然后，去掉其他一些詞，意味著我們正在測量的是：-SSB 噪聲密度，單位為 dBW/Hz
1、WHITE PHASE 熱噪聲（約翰遜噪聲），即 kT 緩沖放大器噪聲、電阻器噪聲和 Shott 噪聲。
2、FLICKER PHASE 粉紅噪聲（每十倍頻程的功率相等），即主要是緩沖放大器的閃爍噪聲。
3、WHITE FREQ 載波噪聲，即主要是晶體 RLC 噪聲。
4、FLICKER FREQ 白分頻 （載波噪聲） 和 FLICKERPHASE （晶體管噪聲） 的互調(diào)，特別是在振蕩器回路內(nèi)。
5、RANDOM WALK 石英和電極結(jié)構(gòu)中的固有噪聲源。環(huán)境變化可能引起的外部影響，例如機械沖擊、振動、溫度變化等。
這些都是 Crystal Oscilator 固有的 Phase Noise 源，還有其他外部影響會影響 Oscillators 的 Phase Noise 性能。這些因素包括電源噪聲、循環(huán)接地電流、控制電壓線上的噪聲、不斷變化的負載條件、機械振動和電磁干擾等等。
在電壓方面，請記住，相位噪聲圖以載波的功率 dB 為單位，因此每 -10 dBC 將電壓除以 0.316 （√10）。這意味著對于本底噪聲為 –150dBC 的 3.3V CMOS 輸出振蕩器，本底噪聲電壓僅為 104nV（納伏）峰/包。
SMI晶振,86M0368 -16,86SMX進口晶振,6G相關(guān)設(shè)備晶振
日本SMI晶體,53SMX石英晶振,53M320-16,6G基站晶振